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X Ray Spectrometry Tsuji, Kouichi John Wiley

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Sinopse

X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances covers the latest developments and areas of research in the methodological and instrumental aspects of x-ray spectrometry. Includes the most advanced and high-tech aspects of the chemical analysis techniques based on x-raysIntroduces new types of X-ray optics and X-ray detectors, covering history, principles, characteristics and future trendsWritten by internationally recognized scientists, all of whom are eminent specialists in each of the sub-fieldsSections include: X-Ray Sources, X-Ray Optics, X-Ray Detectors, Special Configurations, New Computerization Methods, New Applications This valuable book will assist all analytical chemists and other users of x-ray spectrometry to fully exploit the capabilities of this set of powerful analytical tools and to further expand applications in such fields as material and environmental sciences, medicine, toxicology, forensics, archaeometry and many others.


Detalhes do produto

Peso: 1,474 kg
Número de páginas: 603
Ano de edição: 2004
ISBN 10: 047148640X
ISBN 13: 9780471486404
Altura: 23
Largura: 15
Comprimento: 3
Idioma : Inglês
Tipo de produto : Livro
Assuntos : Ciências


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